ラミネート形セル安全性試験結果
過充電試験、過放電試験及び外部短絡試験のいずれにおいても発火、破裂を認めず、優れた安全性を示しております。
| 試験 | 条件 | 結果 | |
|---|---|---|---|
| 発火 | 破裂 | ||
| 過充電 | 電流： 200 A 充電率： 250% 最大電圧： 20 V 狭着治具使用 |
なし | なし |
| 過放電 | 電流： 200 A 電圧： 0 V |
なし | なし |
| 外部短絡 | 短絡抵抗： 3 mΩ 雰囲気温度： 55 ℃ |
なし | なし |
ラミネート形セルのサイクル試験結果
100Aでの充放電を100万回繰り返しても、顕著な劣化は見られません。
| 試験セル | ラミネート形1100F |
|---|---|
| 試験条件 | 充電：CC 100A, 3.8V / 放電：CC 100A, 2.2V / 休止無し |
※試験結果は、それぞれ記載の試験条件の下で観察されたものであり異なる条件の下での同様の結果を保証するものではありません。
ラミネート形セルのフロート試験結果
70℃ 3.8Vフロート試験において10,000時間後でも、顕著な劣化は見られません。
| 試験セル | ラミネート形1100F |
|---|---|
| 試験条件 | 電圧：3.8V / 雰囲気温度：70℃ |
※試験結果は、それぞれ記載の試験条件の下で観察されたものであり異なる条件の下での同様の結果を保証するものではありません。
ラミネート形セルの自己放電試験結果
3.8Vで10,000時間放置しても、顕著な電圧低下は見られません。
| 試験セル | ラミネート形1100F |
|---|---|
| 試験条件 | 電圧：3.8V / 雰囲気温度：25℃ |
※試験結果は、それぞれ記載の試験条件の下で観察されたものであり異なる条件の下での同様の結果を保証するものではありません。